| 中子数字成像FPGA抗辐照技术研究 |
| |
| 引用本文： | 黄继鹏, 田睿, 王延杰, 等. 中子数字成像FPGA抗辐照技术研究[J]. 强激光与粒子束, 2017, 29: 074001. doi: 10.11884/HPLPB201729.170009 |
| |
| 作者姓名： | 黄继鹏 田睿 王延杰 王连明 孟艳丽 |
| |
| 作者单位： | 1.东北师范大学 物理学院, 长春 1 30024;;;2.中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所, 长春 1 30033 |
| |
| 摘 要： | 中子数字成像试验中,现场可编程门阵列（FPGA）是重要的成像逻辑控制器件。然而,中子辐照易引起FPGA的单粒子效应,对中子成像引入本底噪声,因此必须采取措施,减少中子辐照对FPGA成像的影响。结合图像周期性的特点,采用三判二的技术方法替代三模冗余,裁决成像关键信号;采用硬件实现的中值滤波算法,平滑由于RAM区单粒子翻转等原因呈现在图像上的噪点。仿真结果表明,本文采用的两种技术方法不但降低资金成本,提高FPGA资源冗余度,而且在取得良好的抗辐照滤波效果的同时,保留图像细节。时序仿真和硬件平台验证了设计的正确性。
|
| 关 键 词： | 中子成像 FPGA 三判二 中值滤波 无损检测 |
| 收稿时间： | 2017-01-11 |
| 修稿时间： | 2017-03-20 |
|
| 点击此处可从《强激光与粒子束》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《强激光与粒子束》下载全文 |
|
