确定应力强度因子的光弹性法与焦散线法 |
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引用本文: | 张忠平, 孙中禹, 孙强. 2001. 确定应力强度因子的光弹性法与焦散线法. 应用力学学报, 18(3): 100-104. doi: 10.3969/j.issn.1000-4939.2001.03.018 |
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作者姓名: | 张忠平 孙中禹 孙强 |
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作者单位: | 空军工程大学 |
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摘 要: | 以光弹性法及焦散线法的基本原理为基础,对两种方法在确定应力强度因子方面进行了比较 .发现对于纯Ⅰ型裂纹问题,光弹性法的精度低于焦散线法的精度;对于Ⅰ-Ⅱ混合型裂纹问题,就张开型应力强度因子而言,光弹性法的精度低于焦散线法的精度,而就滑移型应力强度因子而言,光弹性法的精度高于焦散线法的精度.
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关 键 词: | 应力强度因子 光弹性法 焦散线法 比较 |
文章编号: | 1000-4939(2001)03-0100-05 |
修稿时间: | 1999-11-23 |
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