| YBa2Cu3O7-x涂层导体的外延生长和性能对CeO2缓冲层的依赖性 |
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| 引用本文： | 李美亚,汪晶,刘军,于本方,郭冬云,赵兴中. YBa2Cu3O7-x涂层导体的外延生长和性能对CeO2缓冲层的依赖性[J]. 物理学报, 2008, 57(5) |
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| 作者姓名： | 李美亚 汪晶 刘军 于本方 郭冬云 赵兴中 |
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| 基金项目： | 教育部留学回国人员科研启动基金 |
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| 摘 要： | 利用倾斜衬底沉积法在无织构的金属衬底上生长了MgO双轴织构的模板层,在这一模板层上实现了YBa2Cu3O7-x薄膜的外延生长.在外延YBa2Cu3O7-x薄膜前,依次沉积了钇稳定的立方氧化锆和CeO2作为缓冲层.利用X射线衍射2θ扫描、φ扫描、Ω扫描和极图分析测定了这些膜的结构和双轴织构取向,利用Raman光谱表征了其超导相的品质和取向特性,利用扫描电镜和原子力显微镜观测了薄膜的表面形貌和粗糙度.考察了不同厚度的CeO2层对YBa2Cu3O7-x生长和性质的影响.发现了YBa2Cu3O7-x薄膜的外延生长和性能对CeO2的不同厚度具有显著而独特依赖性.讨论了其可能的机理.
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| 关 键 词： | YBa2Cu3O7-x镀膜导体 CeO2缓冲层 厚度依赖性 外延生长 涂层导体 外延生长 性能 缓冲层 依赖性 buffer layer thickness property growth 机理 发现 影响 性质 厚度 考察 粗糙度 表面形貌 观测 显微镜 原子力 |
Dependence of growth and property of YBa2Cu3O7-x coated conductors on the thickness of CeO2 buffer layer |
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| Li Mei-Ya,Wang Jing,Liu Jun,Yu Ben-Fang,Guo Dong-Yun,Zhao Xing-Zhong. Dependence of growth and property of YBa2Cu3O7-x coated conductors on the thickness of CeO2 buffer layer[J]. Acta Physica Sinica, 2008, 57(5) |
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| Authors: | Li Mei-Ya Wang Jing Liu Jun Yu Ben-Fang Guo Dong-Yun Zhao Xing-Zhong |
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