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| 高聚物（PEO）＿n－CuBr＿2薄膜在流体静高压下的离子导电性 | |
| 作者姓名： | 苏 王文楼 谢斌 蒋宗驷 林枫凉 |
| 作者单位： | 中国科学技术大学基础物理中心，中国科学技术大学结构分析开放研究实验室，中国科学技术大学近代化学系 |
| 基金项目： | 国家科学技术委员会基础处资助 |
| 摘 要： | 用混溶蒸发法制备出高聚物（ＰＥＯ）＿ｎ－ＣｕＢｒ＿２（ｎ＝４，８，１２，１６，２４）薄膜。并详细测量它们在０．１３５０ＭＰａ静水压范围的复阻抗谱，以及在０．１－２４００ＭＰａ静水压范围的交流电导率。结果表明：离子电导率与压力的依赖关系可分解为四段相迭加的线性关系。根据Ｘ射线衍射物相分析，它们分别归于ＰＥＯ非晶相的压力效应，ＰＥＯ结晶相的压力效应和析出新相ＣｕＢｒ＿２的压力效应。最后给出克服办法——添加少量增塑剂碳酸乙烯酯可增加（ＰＥＯ）＿ｎ－ＣｕＢｒ＿２薄膜的弹性，使压力下的离子电导率提高一至两个数量级。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |