摘 要: | 利用北京谱仪(BES)在4.03GeV正负电子对撞能量下获取的数据,[研究了,τ+τ-产生过程.借助双标记方法分析了τ±→π+π-π±υτ衰变事例.测定分支比Br(τ±→a1±υτ→ρ0π±υτ,ρ0→π+π-=(7.3±0.5)%,Br(τ±→K*±υτ→Ks0π±υτ,Ks0→π+π-)=(0.6±1.5)×10-3.并由Daliz投影分布的分析,确认a1的主要衰变方式ρπ.同时,也观察到a1衰变中以S波贡献为主的现象.采用Kuhn模型拟合实验数据,得到:ma1=1.24±0.02GeV,Γa1T=0.57±0.07GeV.
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