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| 电滞回线的精确测量和分析 | |
| 引用本文： | 李景德. 电滞回线的精确测量和分析[J]. 物理, 1981, 10(12). |
| 作者姓名： | 李景德 |
| 作者单位： | 中山大学物理系 |
| 摘 要： | 人们通常用Ｓａｗｙｅｒ和Ｔｏｗｅｒ[１］提出的方法测量铁电体的电滞回线．Ｄｉａｍａｎｔ[２］考虑了样品的漏电电阻Ｒ和剩余电容Ｃｒ的影响对此方法作了改进．图１描述了这种改进后的方法．被测样品在图中用Ｒ和Ｃ并联的电路等效地代替．Ｃ是样品的微分电容，其中Ｑ为样品的电极在电压Ｅ作用下积存的电荷．若电极面积为Ａ，铁电体的极化强度为Ｐ，则Ｑ＝ＡＰ．（２）若及则电容Ｃ０上积存的电荷ｑ与Ｑ相等，而ｑ＝Ｃ０Ｕ，?... |
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