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| 铝单晶体滑移的电子显微镜观察(三) | |
| 作者姓名： | 钱临照 何寿安 杨大宇 |
| 作者单位： | 中国科学院应用物理研究所(钱临照，何寿安)，中国科学院应用物理研究所(杨大宇) |
| 摘 要： | 在前文中曾提及,在铝单晶的滑移带之外发现到处有平行于滑移带的类似滑移的直线痕迹,在本文图1中的纯铝单晶体的滑移电子显微镜照相中更为明显。图中除若干极为明显的滑移带之外,晶体上满布着这类平行于滑移带的极为细微的直线痕迹。不难证明,这些细微的直线痕迹也是滑移的类型。这些细滑移线的主要特点是: |
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