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| 基于X射线衍射仪的X光晶体本征参量的标定 | |
| 作者姓名： | 杨国洪 韦敏习 侯立飞 易涛 李军 刘慎业 |
| 作者单位： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金(No.11105129)资助 |
| 摘 要： | X光晶体本征参量的实验标定是准确鉴定X光晶体种类和品质,研制各种类型晶体谱仪,X光线谱定量测量和高分辨X光单能成像的基础.基于X射线衍射仪,通过制作平面晶体样品架,采取控制X射线管电源、滤波片选取和厚度控制等措施,极大地抑制了Cu-Kβ及韧致辐射,使X射线管光源Cu-Kα单能化,提出了用滤片作为光源单能化的判据.对X光线谱测量中常用的X光分光晶体季戊四醇的晶格常量2 |
| 关 键 词： | 标定方法 X光晶体 本征参量 X射线衍射仪 |
| 收稿时间： | 2012-01-12 |
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