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La1-xPrxMnO3(x=0.1,0.2)薄膜庞磁电阻性质的研究
引用本文:段苹,陈正豪,戴守愚,周岳亮,吕惠宾. La1-xPrxMnO3(x=0.1,0.2)薄膜庞磁电阻性质的研究[J]. 物理学报, 2006, 55(3)
作者姓名:段苹  陈正豪  戴守愚  周岳亮  吕惠宾
摘    要:一种新的庞磁电阻氧化物薄膜La1-xPrxMnO3(x=0.1,0.2)薄膜用脉冲激光沉积(PLD)方法生长在(100)SrTiO3单晶基底上.XRD结果显示薄膜具有很好的外延单晶取向.电输运和磁性质的研究表明薄膜具有显著的庞磁电阻效应(CMR)效应,其中磁电阻比率达95%(在5T的磁场下).X射线光电子能谱(XPS)的结果表明薄膜体系中Pr离子的价态为+4价,因此该薄膜很可能是电子掺杂的庞磁电阻体系.

关 键 词:脉冲激光沉积  电子掺杂  庞磁电阻

Colossal magnetoresistance effect in the perovskite-type La1-xPrxMnO3 thin films
Duan Ping,Chen Zheng-Hao,Dai Shou-Yu,Zhou Yue-Liang,Lü Hui-Bin. Colossal magnetoresistance effect in the perovskite-type La1-xPrxMnO3 thin films[J]. Acta Physica Sinica, 2006, 55(3)
Authors:Duan Ping  Chen Zheng-Hao  Dai Shou-Yu  Zhou Yue-Liang  Lü Hui-Bin
Abstract:
Keywords:La1-xPrxMnO3
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