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GeV能量的Fe离子在C60薄膜中的辐照效应研究
引用本文:姚存峰,金运范,宋银,王志光,刘杰,孙友梅,张崇宏,段敬来. GeV能量的Fe离子在C60薄膜中的辐照效应研究[J]. 原子核物理评论, 2007, 24(4): 309-402. DOI: 10.11804/NuclPhysRev.24.04.309
作者姓名:姚存峰  金运范  宋银  王志光  刘杰  孙友梅  张崇宏  段敬来
作者单位:1中国科学院近代物理研究所, 甘肃 兰州 730000; 2 中国科学院研究生院, 北京 100049
摘    要:
利用傅立叶转换红外光谱和Raman谱仪分析了0.98 GeV的Fe离子在电子能损Se为3.5 keV/nm时, 不同辐照剂量(5×1010 —8×1013 ions/cm2)下, 在C60薄膜中引起的辐照损伤效应。 分析表明, Fe离子辐照引起了C60分子的聚合与损伤。 在辐照剂量达到一中间值1×1012 ions/cm2, C60分子的损伤得到部分恢复, 归因于电子激发引起的退火效应。 通过对Raman数据的拟合分析, 演绎出Fe离子辐照在C60材料中形成的潜径迹截面或引起损伤的截面约为1.32×10-14 cm2。

关 键 词:C60薄膜   辐照效应   GeV能量的离子   退火效应   聚合
文章编号:1007-4627(2007)04-0309-04
收稿时间:2007-02-01
修稿时间:2007-04-04

Irradition Effect in C60 Films Induced by GeV Fe Ions
YAO Cun-fang,JIN Yun-fan,SONG Yin,WANG Zhi-guang,LIU Jie,SUN You-mei,ZHANG Chang-hong,DUAN Jing-lai. Irradition Effect in C60 Films Induced by GeV Fe Ions[J]. Nuclear Physics Review, 2007, 24(4): 309-402. DOI: 10.11804/NuclPhysRev.24.04.309
Authors:YAO Cun-fang  JIN Yun-fan  SONG Yin  WANG Zhi-guang  LIU Jie  SUN You-mei  ZHANG Chang-hong  DUAN Jing-lai
Affiliation:1 Institute of Modern Physics, Chinese Academy of Sciences, Lanzhou 730000, China;2 Graduate School of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China
Abstract:
The irradiation effects of C60 films induced by 0.98 GeV Fe ions at the same electronic energy loss of 3.5 keV/nm and different irradiation dose ranging from 5×1010 to 8×1013 ions/cm2 , were analyzed by Raman scattering and Fourier transform infrared (FTIR) spectroscopes. The analysis results indicate that the irradiation results in a molecular polymerization and destruction of the C60. The partial recovery of the damage at the intermediate value of irradiation dose, 1×1012 ions/cm2, was caused by an annealing effect of electronic energy loss. The ion track or damage cross section σ deduced from the Raman data was 1.32×10-14 cm2.
Keywords:C_(60) film  irradiation effect  GeV energy ion  annealing effect  polymerization
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