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| 用正电子寿命谱研究GeSe_x硫系玻璃的自由体积 | |
| 引用本文： | 王柱,田丰收,皮道显,陶海征.用正电子寿命谱研究GeSe_x硫系玻璃的自由体积[J].武汉大学学报(理学版),2015(2):174-178. |
| 作者姓名： | 王柱 田丰收 皮道显 陶海征 |
| 作者单位： | 武汉大学物理科学与技术学院;武汉理工大学硅酸盐建筑材料国家重点实验室 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(11275142) |
| 摘 要： | 采用正电子寿命谱和拉曼散射研究了不同组分配比的Ge Sex(x=6,7,8,9)硫系玻璃的微结构.正电子寿命结果显示在x=8时,其平均正电子寿命具有最小值.拉曼光谱结果研究表明,这种硫系玻璃样品主要由Ge Se4]四面体和Seμ链的结构单元构成.以上的实验结果用级配理论得到了合理的解释,这两种结构单元配比关系的变化导致硫系玻璃样品中的自由体积变化,从而导致正电子平均寿命减小.研究发现Ge Se8具有最小的自由体积,即具有最稳定的结构. |
| 关 键 词： | 硫系玻璃 正电子寿命 自由体积 拉曼散射 级配理论 |
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