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Mn+注入p型GaN薄膜的结构和磁学特性
引用本文:石瑛,林玲,蒋昌忠,付德君,范湘军.Mn+注入p型GaN薄膜的结构和磁学特性[J].武汉大学学报(理学版),2004,50(5):555-558.
作者姓名:石瑛  林玲  蒋昌忠  付德君  范湘军
作者单位:武汉大学,物理科学与技术学院,湖北,武汉,430072
基金项目:国家自然科学基金(10205010),教育部留学回国人员科研启动基金,中国科学院核分析技术研究实验室资助项目
摘    要:用低压MOCVD法在(0001)面的蓝宝石衬底上生长纤锌矿结构的GaN.GaN膜总厚度为4μm,包括0.5μm掺Mg的p型表面层.Mn 离子注入的能量为90keV,剂量为1.0×1015~5.0×1016cm-2,被注入的p型GaN处于室温.对注入样品的快速热退火处理是在N2气流中进行的,温度约为800℃,时间为30~90s.采用X射线衍射(XRD)、卢瑟福背散射(RBS)和原子力显微镜(AFM)研究,发现Mn 注入GaN膜的结构受注入剂量和退火条件的控制.通过超导量子干涉仪(SQUID)分析,在Mn 注入剂量为5.0×1015cm-2、并经850℃退火30s的GaN膜中发现了铁磁性,表明离子注入方法是进行GaN掺杂改性的有效手段.

关 键 词:GaN薄膜  结构  磁性  离子注入  半导体材料  超导量子干涉仪
文章编号:1671-8836(2004)05-0555-04
修稿时间:2004年4月9日

Structural and Magnetic Studies of Mn+ Implanted GaN Films
SHI Ying,LIN Ling,JIANG Chang-zhong,FU De-jun,FAN Xiang-jun.Structural and Magnetic Studies of Mn+ Implanted GaN Films[J].JOurnal of Wuhan University:Natural Science Edition,2004,50(5):555-558.
Authors:SHI Ying  LIN Ling  JIANG Chang-zhong  FU De-jun  FAN Xiang-jun
Abstract:
Keywords:GaN films  ion implantation  structure  magnetism
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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