| FeXCu1-X纳米颗粒膜R-I特性 |
| |
| 引用本文： | 汪壮兵,任清褒,等.FeXCu1-X纳米颗粒膜R-I特性[J].浙江大学学报(理学版),2001,28(3):258-262. |
| |
| 作者姓名： | 汪壮兵 任清褒 |
| |
| 作者单位： | [1]浙江大学物理系，浙江杭州310027 [2]丽水师范专科学校物理系，浙江丽水323000 |
| |
| 基金项目： | 浙江省自然科学基金资助项目(199031）。 |
| |
| 摘 要： | 用磁控溅射的方法制备得到FexCu1-x纳米颗粒膜，并系统研究了它的R-I特性（电阻-电流特性），实验发现随着纳米颗粒膜的厚度、铁铜含量比和退火条件的改变，R-I特性将发生明显的变化，表明测量电流的大小对纳米颗粒膜的结构和性质有不可忽视的影响，基于较大测量电流导致的阻温特性和薄膜的部分晶化效应，对实验现象进行了相应的讨论。
|
| 关 键 词： | 纳米颗粒膜 电阻－电流特性 （R－I特性） 颗粒膜厚度 铁铜含量比 退火条件 |
| 文章编号： | 1008-9497(2001)03-0258-05 |
| 修稿时间： | 2000年10月26 |
The R-I relationship of FeXCu1-X granular film. |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《浙江大学学报(理学版)》浏览原始摘要信息 |
| 点击此处可从《浙江大学学报(理学版)》下载免费的PDF全文 |
