X射线荧光光谱法分析电解质中氧化铝 |
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引用本文: | 耿 昭,张亚平.X射线荧光光谱法分析电解质中氧化铝[J].中国无机分析化学,2013,3(Z1):43-45. |
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作者姓名: | 耿 昭 张亚平 |
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作者单位: | 青海桥头铝电有限股份公司 中心化验室,西宁 810100;青海桥头铝电有限股份公司 中心化验室,西宁 810100 |
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摘 要: | 采用粉末压片法建立了X射线荧光光谱法测定铝电解质中氧元素含量的方法,通过测定氧元素来计算三氧化二铝的含量;重点讨论了样品前处理、粉料颗粒度、保压时间、压片压力等对于超轻元素的粉末压片制样的影响因素,同时采用二点法对氧元素进行背景扣除,运用固定α系数法校正基体效应;方法的相对标准偏差RSD低于2.00%,方法的检出限为163mg/kg,相对分析误差控制在3%以下,误差控制在电解质中氧化铝质量控制允许的范围之内。方法用来分析铝电解质中氧化铝组分含量,结果准确,符合生产要求。方法简单、快速、灵敏,能够作为铝电解质中氧化铝的有效检测手段。
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关 键 词: | X射线荧光光谱法 铝电解质 三氧化二铝 |
收稿时间: | 8/9/2013 12:00:00 AM |
修稿时间: | 2013/8/27 0:00:00 |
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