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| 外延X射线吸收精细结构(EXAFS)谱——一种结构测定新技术 | |
| 引用本文： | 薛永鹏,马礼敦.外延X射线吸收精细结构(EXAFS)谱——一种结构测定新技术[J].化学通报,1982(7). |
| 作者姓名： | 薛永鹏 马礼敦 |
| 作者单位： | 复旦大学化学系，复旦大学化学系 上海 成都西南民族学院理化系，上海 |
| 摘 要： | 一、引言X 射线结晶学从二十年代以来,一直作为物质结构研究中的一个重要工具。但是,随着科学技术的发展,越来越要求对像无定形材料、多相催化剂、催化剂载体及化学性质不稳定的原子簇等的结构有精确的了解。而对这些一般难以获得单晶的物质,X 射线结晶学所能提供的结构信息是极其有限的。近年发展起来的新 |
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