| 用理学3064X荧光仪分析碳 |
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| 引用本文： | 金德龙,陆晓明,吉昂.用理学3064X荧光仪分析碳[J].分析测试技术与仪器,1996,2(3):38-43. |
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| 作者姓名： | 金德龙 陆晓明 吉昂 |
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| 作者单位： | 宝山钢铁(集团)公司钢铁研究所 上海 201900;宝山钢铁(集团)公司钢铁研究所 上海 201900;中国科学院上海硅酸盐研究所 上海 200050 |
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| 摘 要： | 在理学３０６４Ｘ荧光仪上采用十八烷基马来酸晶体作为色散单元，通过改造电路，调整晶体倾角，获得对碳分析的良好线性，在流气正比计数器窗膜分别为５μｍ和０．６μｍ条件下，碳元素的峰背比分别下达到３８．１９和５４．０４。
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| 关 键 词： | X射线荧光仪 碳 晶体 |
| 收稿时间： | 4/5/1996 12:00:00 AM |
| 修稿时间： | 7/9/1996 12:00:00 AM |
Determination of Carbon with Rigaku 3064 XRF Spectrometer |
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| Jin Delong,Lu Xiaoming and Ji Ang.Determination of Carbon with Rigaku 3064 XRF Spectrometer[J].Analysis and Testing Technology and Instruments,1996,2(3):38-43. |
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| Authors: | Jin Delong Lu Xiaoming and Ji Ang |
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| Institution: | Baoshan Steel-Iron Research Institute, Shanghai 201900;Baoshan Steel-Iron Research Institute, Shanghai 201900;Shanghai Institute of Ceramics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200050 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | X-rayfluorescence spectrometer analysis carbon crystal |
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