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| 基于蒙特卡洛方法的X射线探测器能谱响应研究 | |
| 引用本文： | 刘合凡,葛良全,郭生良,罗耀耀,赵剑锟.基于蒙特卡洛方法的X射线探测器能谱响应研究[J].分析试验室,2015(2):130-133. |
| 作者姓名： | 刘合凡 葛良全 郭生良 罗耀耀 赵剑锟 |
| 作者单位： | 成都理工大学核技术与自动化工程学院;成都国辐科技有限公司 |
| 基金项目： | 国家863计划(2012AA061803);国家自然科学基金(41074093);四川省重大科技成果转化项目(2013CC0045)资助 |
| 摘 要： | 为解决X射线荧光测量过程中的仪器刻度和校正难题,通过理论研究并运用蒙特卡洛方法对X射线荧光仪进行建模,得到了X射线探测器能谱响曲线。结果表明:模拟的X射线探测器能谱响应全谱与实测情况基本一致,而主成份谱线则高度一致,特征峰半高宽相对误差均在5%以内。方法为X射线荧光测量的仪器刻度和校正提供重要的研究信息,不仅为元素分析工作节省大量人力物力,也为无标样X射线荧光分析提供了有力的理论支撑。方法也可用于X射线荧光分析过程中的其他研究领域。 |
| 关 键 词： | 蒙特卡洛方法 X射线探测器 能谱响应 主成份谱 |
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