| 二阶导数光谱-峰面积积分法同时测定痕量锗和钼 |
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| 引用本文： | 李红玫,丁鹏,辛红,吕健.二阶导数光谱-峰面积积分法同时测定痕量锗和钼[J].分析试验室,2004,23(2):71-73. |
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| 作者姓名： | 李红玫 丁鹏 辛红 吕健 |
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| 作者单位： | 长春师范学院化学系,长春130032;长春师范学院化学系,长春130032;长春师范学院化学系,长春130032;长春师范学院化学系,长春130032 |
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| 摘 要： | 在苯基荧光酮 氯代十六烷基吡啶(CPC)胶束体系中,引入二阶导数光谱 峰面积积分技术,建立了同时测定微量锗和钼的新方法。该方法可有效消除共存离子的干扰,提高了准确度和灵敏度。实验表明:锗质量浓度在0～15μg/mL、钼质量浓度在0～8μg/mL均呈线性关系。摩尔吸光系数锗ε509为1.4×105L·mol-1·cm-1;钼ε540为5.9×104L·mol-1·cm-1。方法检出限锗为3.3μg/L;钼为6.9μg/L。可用于中药材中锗和钼的同时测定。
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| 关 键 词： | 二阶导数光谱 峰面积积分光度法 苯基荧光酮 氯代十六烷基吡啶 锗 钼 中药材 |
| 文章编号： | 1000-0720(2004)02-0071-03 |
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