| 一种定量分析金属镀层中特定元素含量的简单方法 |
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| 引用本文： | 王吉力,陈树榆,余华明,孙梅.一种定量分析金属镀层中特定元素含量的简单方法[J].分析试验室,2001,20(3):91-92. |
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| 作者姓名： | 王吉力 陈树榆 余华明 孙梅 |
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| 作者单位： | 1. 国家同步辐射实验室,
2. 中国科学技术大学理化科研中心, |
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| 摘 要： | 用光学的方法（如常见的X射线荧光分析法、发射光谱分析法^1]等）分析固体样品中特定元素及其含量是常见的分析方法。相对于化学方法，它们的分析过程简单、迅速。笔者在分析样品中遇到了一些比较特殊的分析要求，例如在金属外镀了另外的合金，要求分析在镀层中特定元素的浓度。一种直接的方法是用X射线荧光做定量分析，可以给出镀层的元素含量。但X荧光定量分析需要特定的标样，对使用者存在一定的不便之处，而且设备也较贵。本研究采用普通的原子光谱分析法结合简单的数学推导，解决了上述问题。本方法也可以应用于普通的光学原子发射光谱分析。
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| 关 键 词： | 金属镀层 元素含量 定量分析 X射线荧光光谱 原子光谱分析 |
| 文章编号： | 1000-0720(2001)03-0091-02 |
A method for determination of specific elements in alloy-plated layers |
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| WANG Jie,CHEN Shu-yu,YU Hua-ming,SUN Mei.A method for determination of specific elements in alloy-plated layers[J].Chinese Journal of Analysis Laboratory,2001,20(3):91-92. |
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| Authors: | WANG Jie CHEN Shu-yu YU Hua-ming SUN Mei |
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