| X射线荧光光谱法测定Zn镀层质量厚度及计算谱线选择问题研究 |
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| 引用本文： | 韩小元,卓尚军,王佩玲,陶光仪.X射线荧光光谱法测定Zn镀层质量厚度及计算谱线选择问题研究[J].分析试验室,2006,25(1):5-8. |
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| 作者姓名： | 韩小元 卓尚军 王佩玲 陶光仪 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院上海硅酸盐研究所,上海,200050;中国人民解放军63653部队,新疆,841700
2. 中国科学院上海硅酸盐研究所,上海,200050 |
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| 摘 要： | 用X射线荧光光谱法测定了Fe基上Zn镀层的质量厚度；研究了厚度不同时选用不同谱线计算对测定结果的影响，发现在镀层质量厚度较小时（约〈14mg／cm^2）测量Zn元素的Kα线，质量厚度较大时选择Zn的Kα和Fe的Kα线共同计算，用纯元素和相似标样校正测定结果之间的偏差最小；用纯元素作校正标样测定了3个标准样品的Zn镀层质量厚度，计算结果与标准值符舍得较好。
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| 关 键 词： | X射线荧光光谱 纯元素标样 质量厚度 计算谱线选择 |
| 文章编号： | 1000-0720（2006）01-0005-04 |
| 收稿时间： | 02 28 2005 12:00AM |
| 修稿时间： | 04 11 2005 12:00AM |
Determination of the mass thickness of zinc coating by X-ray fluorescence spectrometry |
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| HAN Xiao-yuan,ZHUO Shang-jun,WANG Pei-ling,TAO Guang-yi.Determination of the mass thickness of zinc coating by X-ray fluorescence spectrometry[J].Chinese Journal of Analysis Laboratory,2006,25(1):5-8. |
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| Authors: | HAN Xiao-yuan ZHUO Shang-jun WANG Pei-ling TAO Guang-yi |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | X-ray fluorescence spectrometry The fundamental parameter method Pure element bulk specimen Mass thickness |
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