北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA)简介

北京分析测试学术报告会暨展览会(Beijing Conference and Exhibition on Instrumental Analysis),简称BCEIA,始办于1985年。BCEIA在有关部门的领导下,以及有关专家、科研院所、企业的关心支持下,经历28年的不断培育和发展,每两年举办一届,连续成功地举办了十五届,现已成为国内分析测试界专业化程度和知名度高的盛会,是与美国匹兹堡会议(PITTCON)、日本分析机器工业会(JASIA)和德国慕尼黑国际展览集团(IMAG)组织的国际同行会议之一。BCEIA在促进国际间的科学技术交流,推动我国分析测试科学和仪器制造技术的发展发挥了重要作用。