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| 化学-X射线荧光法测定地质试样中15个痕量稀土元素 | |
| 引用本文： | 肖德明,张鸿文,甘璇玑,魏国有.化学-X射线荧光法测定地质试样中15个痕量稀土元素[J].分析试验室,1985(2). |
| 作者姓名： | 肖德明 张鸿文 甘璇玑 魏国有 |
| 作者单位： | 核工业部北京三所 (肖德明，张鸿文，甘璇玑)，核工业部北京三所(魏国有) |
| 摘 要： | 地质样试中稀土元素的丰度、分布模式及某些稀土元素组间的比值等对地球化学中一些重大研究课题有着重要意义,日益受到地质工作者的重视。稀土元素物化性质相近,岩石中含量很低而又共生在一起,所以痕量稀土元素的测定十分困难。过去一般均用质谱法和中子活化法,近来也使用等离子体光谱法和X射线荧光法进行分析。X射线荧光法测定岩石中痕量稀土元素时,均先用离子交换分离富集,再用离子交换膜或纸收集制成薄膜试样进行测定。本法采用小柱离子交换分离,沉淀富集薄膜制样技术。方法具有取样少,预富集流程短、检出限低、方法精密度和准确度好、特别是可以 |
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