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| 样品晶粒尺寸及高度偏差对XRD的影响 | |
| 引用本文： | 肖康,王琼,苏凡,马延文,辛颢.样品晶粒尺寸及高度偏差对XRD的影响[J].广州化学,2018(5). |
| 作者姓名： | 肖康 王琼 苏凡 马延文 辛颢 |
| 作者单位： | 南京邮电大学材料科学与工程学院;南京林业大学现代分析测试中心;中国地质大学珠宝学院;;武汉科技大学冶金矿产资源...;中山大学化学学院;;榆林学院能源工程学院;榆...;南京邮电大学材料科学与工...;中国石化北京化工研究院;;湖北工程学院新技术学院;;中南大学能源科学与工程学...;东北大学资源与土木工程学...;安徽工业大学建筑工程学院... |
| 摘 要： | 样品晶粒尺寸及样品高度偏差对XRD测试结果存在极大影响。实验结果表明,晶粒尺寸过大会导致异于标准卡片的衍射峰出现,且衍射谱图不具有重现性;样品高度偏差则会导致衍射峰位移动,正高度偏差使衍射峰向高角度方向移动,负高度偏差使衍射峰向低角度方向移动,峰位移动量与高度偏差呈正比:△2θ=360cosθ/πR△h。样品晶粒和高度偏差过大以致结果异常的情况应视为制样错误,测试过程中应予重视。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |