超细粉氧化铝陶瓷烧结反应正电子湮没谱分析 |
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引用本文: | 刘存业,李建.超细粉氧化铝陶瓷烧结反应正电子湮没谱分析[J].分析测试学报,1998,17(2):31-33. |
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作者姓名: | 刘存业 李建 |
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作者单位: | 西南师范大学物理系 |
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摘 要: | 利用正电子湮没谱(PAS)分析技术对超细粉α_Al2O3陶瓷基片(板)的烧结反应过程进行了检测研究。对在4种不同的温度下得到的烧结体作PAS分析研究,发现正电子寿命敏感于烧结温度以及不同温度下的微结构效应。根据PAS数据分析,对超细粉陶瓷烧结体的微结构缺陷及温度-相变关系作了初步探索。
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关 键 词: | 氧化铝,陶瓷,正电子谱,缺陷,微结构 |
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