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| 二氧化硅纳米粒子表面修饰及其表征 | |
| 引用本文： | 刘晓云,赵辉鹏,李兰,阎捷,查刘生.二氧化硅纳米粒子表面修饰及其表征[J].分析测试学报,2006,25(6):5-9. |
| 作者姓名： | 刘晓云 赵辉鹏 李兰 阎捷 查刘生 |
| 作者单位： | 1. 东华大学,纤维材料改性国家重点实验室,上海,200051 2. 东华大学,分析测试中心,上海,200051 3. 东华大学,纤维材料改性国家重点实验室,上海,200051;东华大学,分析测试中心,上海,200051 |
| 基金项目： | 教育部科学技术研究重点项目 |
| 摘 要： | 采用溶胶-凝胶法合成粒径在50—150nm范围内的二氧化硅（SiO2）纳米粒子。用甲基丙烯酸-3-（三甲氧基硅基）丙酯（MPS）对SiO2纳米粒子表面进行修饰，使其表面接枝能参与自由基聚合反应的碳碳双键基团。用元素分析、FTIR、^13C CP／MASNMR和^29Si CP／MASNMR等手段对修饰过的SiO2纳米粒子进行表征，以确证MPS接枝在SiO2纳米粒子上。分析修饰过的SiO2纳米粒子的^29Si CP／MASNMR和FTIR谱图，还可初步推断MPS接枝在SiO2纳米粒子表面的机理：MPS首先发生水解缩合反应形成低聚物，然后通过氢键作用吸附到SiO2纳米粒子表面，最后MPS低聚物中未缩合的硅羟基与SiO2纳米粒子表面的硅羟基发生缩合反应。 |
| 关 键 词： | SiO2纳米粒子 表面修饰 甲基丙烯酸-3-(三甲氧基硅基)丙酯 表征 |
| 文章编号： | 1004-4957（2006）06-0005-05 |
| 收稿时间： | 2005-10-17 |
| 修稿时间： | 2006-07-21 |
Surface-modification and Characterization of Silica Nanoparticles |
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| LIU Xiao-yun,ZHAO Hui-peng,LI Lan,YAN Jie,ZHA Liu-sheng.Surface-modification and Characterization of Silica Nanoparticles[J].Journal of Instrumental Analysis,2006,25(6):5-9. | |
| Authors: | LIU Xiao-yun ZHAO Hui-peng LI Lan YAN Jie ZHA Liu-sheng |
| Institution: | State Key Laboratory for Modification of Chemical Fibers and Polymer Materials, Donghua University, Shanghai 200051, China; 2. Research Center for Analysis and Measurement, Donghua University, Shanghai 200051, China |
| Abstract: | |
| Keywords: | SiO_2 nanoparticles Surface-modification 3-(Trimethoxysilyl)propyl methacrylate(MPS) Characterization |
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