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程序升温-漫反射红外光谱考察SAPO-34分子筛表面酸性质
引用本文:张平,王乐夫.程序升温-漫反射红外光谱考察SAPO-34分子筛表面酸性质[J].分析测试学报,2004,23(1):39-41.
作者姓名:张平  王乐夫
作者单位:1. 广州大学,环境科学系,广东,广州,510400
2. 华南理工大学,化学工程系,广东,广州,510640
基金项目:国家自然科学基金资助项目(20076017),广东省自然科学基金资助项目(000428),广东省科技攻关计划(2KB06601S)
摘    要:将程序升温-漫反射红外光谱用于表征磷酸硅铝分子筛SAPO-34表面酸性质;结果表明,SAPO-34分子筛中的桥联羟基si—0H—AI具有较强的热稳定性;结合NH,探针考察表明,SAPO-34分子筛具有B酸和L酸两种酸中心,其中B酸较强,是SAPO-34酸性的主要部分,而L酸中心较弱。

关 键 词:磷酸硅铝分子筛  SAPO-34分子筛  羟基  酸性  程序升温-漫反射红外光谱  原位表征技术  B酸中心  L酸中心
文章编号:1004-4957(2004)01-0039-03
修稿时间:2003年1月26日

Investigation of the Character of Surface Acidity of SAPO-34 Molecular Sieve by Programmed Temperature- Diffuse Reflectance IR- FTS
ZHANG Ping ,WANG Le-fu.Investigation of the Character of Surface Acidity of SAPO-34 Molecular Sieve by Programmed Temperature- Diffuse Reflectance IR- FTS[J].Journal of Instrumental Analysis,2004,23(1):39-41.
Authors:ZHANG Ping  WANG Le-fu
Institution:ZHANG Ping 1,WANG Le-fu 2
Abstract:
Keywords:In-situ DRIFTS  SAPO-34molecular sieve  Hydroxyls  Acidity
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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