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| 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱研究Ⅱ.四硫富瓦烯化合物 | |
| 引用本文： | 熊少祥,辛斌,王光辉,刘国诠.基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱研究Ⅱ.四硫富瓦烯化合物[J].化学学报,2000,58(6). |
| 作者姓名： | 熊少祥 辛斌 王光辉 刘国诠 |
| 作者单位： | 中国科学院化学研究所,分子科学中心,北京质谱中心,北京,100080 |
| 基金项目： | 科技部专项基金，国家自然科学基金，中国科学院资助项目 |
| 摘 要： | 采用基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱(MALDI-TOF-MS),对四硫富瓦烯化合物进行质谱表征.在所用的实验条件下,样品很容易解吸电离生成单电荷分子离子,得到单同位素分辨的质谱图.26种实际样品的质谱分析结果表明:MALDI-TOF-MS可以比其它质谱方法更有效、更方便地用于此类化合物的质谱分析,解决了此类化合物不易进行质谱鉴定的难题. |
| 关 键 词： | 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱 四硫富瓦烯 结构表征 |
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