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| X-荧光α系数法测定稀土氧化物中15个稀土元素 | |
| 引用本文： | 陆少兰,许佩珍,李世珍,李建华.X-荧光α系数法测定稀土氧化物中15个稀土元素[J].中国稀土学报,1984(1). |
| 作者姓名： | 陆少兰 许佩珍 李世珍 李建华 |
| 作者单位： | 北京有色金属研究总院 (陆少兰，许佩珍，李世珍)，北京有色金属研究总院(李建华) |
| 摘 要： | 采用粉末稀释直接压片,在PW1400顺序式X-荧光光谱仪上测定了 15个稀土元素。通过电子计算机采用干扰系数扣除严重的谱线干扰,应用α系数校正复杂的基体效应,取得满意的结果。本文研究重点是选择了最佳仪器测量条件;测量出元素间的干扰系数及校正了背景影响;比较了三种基体校正数学模型的效果。分析精度:当含量小于2％时,优于 5％;含量大于2％时,优于?2％。分析速度较文献5]提高三倍。 |
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