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原子荧光光谱测定化妆品中痕量铅
引用本文:黄宗平.原子荧光光谱测定化妆品中痕量铅[J].理化检验(化学分册),2003,39(2):94-95.
作者姓名:黄宗平
作者单位:厦门出入境检验检疫局,厦门 361012
摘    要:介绍氢化物发生-原子荧光光谱法对化妆品中铅含量的定量分析方法,并研究原子荧光光谱测定铅的分析条件。方法检出限低,精密度高,准确性好,可用于测定化妆品中的痕量铅。

关 键 词:原子荧光光谱  测定  化妆品  痕量分析  
文章编号:1001-4020(2003)02-0094-02
修稿时间:2001年5月18日

HG-AFS Determination of Trace Amounts of Lead in Cosmetics
HUANG Zong,ping.HG-AFS Determination of Trace Amounts of Lead in Cosmetics[J].Physical Testing and Chemical Analysis Part B:Chemical Analgsis,2003,39(2):94-95.
Authors:HUANG Zong  ping
Abstract:
Keywords:HG  AFS  Traces of lead  Cosmetics  
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