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| 荧光光度法直接测定高纯氧化钕中的痕量镨和铈 | |
| 引用本文： | 李义久.荧光光度法直接测定高纯氧化钕中的痕量镨和铈[J].理化检验(化学分册),1998,34(5):198-199,201. |
| 作者姓名： | 李义久 |
| 作者单位： | 同济大学化学系微量元素研究所!上海200092 |
| 摘 要： | 使用Ｐ－ＥＬＳ５０荧光光谱仪，在盐酸介质中，用同一激发波长激发，分别测定Ｐｒ（Ⅲ）（ｎｍ）和Ｃｅ（Ⅲ）（３５６ｎｍ）发射峰强度。 |
| 关 键 词： | 荧光光度法 镨 铈 高纯氧化钕 氧化钕 分析 测定 |
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