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| TPC—I3^—体系间接光度法测量痕量Se（Ⅳ） | |
| 引用本文： | 闫永胜,洪军,于雅丽,谭振江,李春香,张焕祯.TPC—I3^—体系间接光度法测量痕量Se（Ⅳ）[J].理化检验(化学分册),1995,31(6):344-345. |
| 作者姓名： | 闫永胜 洪军 于雅丽 谭振江 李春香 张焕祯 |
| 作者单位： | 四平师范学院化学系 136000 (闫永胜，洪军，于雅丽，谭振江，李春香)，四平师范学院化学系 136000河北轻工学院(张焕祯) |
| 摘 要： | 提出了表面活性剂TPC存在下I_3~-间接光度法测定痕量硒方法。方法灵敏度高(ε=1.14×10~6),除铁外其它离子基本无干扰,选择性好,测定含Se(Ⅳ)2.0μg样品10次,RSD=3.9％,精密度理想,适于生物样品及水样中Se(Ⅳ)测定,结果令人满意。 |
| 关 键 词： | 硒 光度法 人发 天然水 |
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