X射线荧光光谱法测定钨单矿物及钨矿中的钨、锰、铁和铌

钨单矿物及钨矿中钨及其伴生元素的分析历来都采用化学法。Harris等指出:钨的比色法可靠性较差,而重量法手续冗长,成本亦高。他们在比较了各种分析手段的基础上,选定X射线荧光光谱法进行测定。笔者采用熔样法,加入适量的钡和钽作重吸收剂,并以钽作钨的内标,无须借助于数学法校正基体效应,成功地进行了钨单矿物、钨精矿及钨中矿中钨、锰、铁和铌的多元素同时测定。方法简便、快速且成本低,其准确度和精密度均可与化学法相比。