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| 铜矿选矿流程中铜、铁、硫、硅、铝、钼和钛的X射线荧光光谱直接测定 | |
| 引用本文： | 袁汉章,吴长存,卜赛斌,张虎云,许佩珍,武清富.铜矿选矿流程中铜、铁、硫、硅、铝、钼和钛的X射线荧光光谱直接测定[J].分析化学,1981(2). |
| 作者姓名： | 袁汉章 吴长存 卜赛斌 张虎云 许佩珍 武清富 |
| 作者单位： | 冶金部有色金属研究总院，冶金部有色金属研究总院，冶金部有色金属研究总院，冶金部有色金属研究总院，冶金部有色金属研究总院，冶金部有色金属研究总院 |
| 摘 要： | 近年来国外已广泛采用x射线荧光光谱分析作为有色金属采矿、选矿、冶炼的流程控制分析。本文所研究的对象为干法矿样,其组成复杂,元素在其中所呈现的状态各不相同,试样的粒度不一致,而各元素的含量变动范围又很大。因此,如何消除试样的颗粒度影响,克服共存元素的基体效应,快速而准确地配合流程分析便是本法讨论的重点。为此采取了如下措施:以实际试样作标准试样;用振动磨样机计时磨样;采用经验系数法对共存元素 |
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