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| 桑色素—Triton X—100—β—环糊精荧光光度法测定痕量锡 | |
| 引用本文： | 赵锦端,何应律.桑色素—Triton X—100—β—环糊精荧光光度法测定痕量锡[J].分析化学,1992,20(8):921-924. |
| 作者姓名： | 赵锦端 何应律 |
| 作者单位： | 中国地质大学应用化学系，中国地质大学应用化学系，中国地质大学应用化学系，中国地质大学应用化学系，中国地质大学应用化学系 武汉 430074，武汉 430074，武汉 430074，武汉 430074，武汉 430074 |
| 摘 要： | 本文用荧光光度法研究了桑色素-Triton X-100-β-环糊精-锡(Ⅳ)体系的测定方法及条件,在0.1mol/L HC1介质中,检测限为1.7ng/ml,锡的含量在10～130ng/ml范围内呈线性关系,本法灵敏度高,选择性好,可不经有机溶剂萃取,在水相中直接进行测定地质和合金样品中微量锡,结果满意。 |
| 关 键 词： | β环糊精 荧光光度法 锡 桑色素 |
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