| 聚二甲基硅氧烷-玻璃微流控芯片制作及高压非接触式电导检测系统的研制 |
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| 引用本文： | 张水锋,王立世,陈缵光,党志,陈慧清,邓雪蓉.聚二甲基硅氧烷-玻璃微流控芯片制作及高压非接触式电导检测系统的研制[J].分析化学,2006,34(10):1501-1506. |
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| 作者姓名： | 张水锋 王立世 陈缵光 党志 陈慧清 邓雪蓉 |
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| 作者单位： | 1. 华南理工大学环境科学与工程学院,广州,510640
2. 中山大学中山医学院,广州,510089 |
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| 摘 要： | 报道了基于边缘加固的PDMS-玻璃芯片制作新方法。在给定条件下,测得芯片的剪切强度为20.4N/cm2,电渗流为2.9×10-4cm2/Vs(RSD5.6%,n=5),方向指向阴极。研制了一套新型高压非接触式电导(HV-CCD)检测系统,详尽地介绍了检测器的接口和信号屏蔽技术。在优化条件下,30s内实现了对K 、Na 、Li 的分离检测,检出限(3×S/N)分别为2.0μmol/L、3.0μmol/L、5.0μmol/L。
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| 关 键 词： | 全微分析系统 聚二甲基硅氧烷 微流控芯片 非接触式电导检测器 无机阳离子 |
| 收稿时间： | 08 1 2005 12:00AM |
| 修稿时间： | 2005-08-012006-02-05 |
Fabrication Method Based on Marginal Reinforcing and Improved High-voltage Contactless Conductivity Detector for Poly(dimethylsiloxane)/Glass Microchips |
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| Zhang Shuifeng,Wang Lishi,Chen Zuanguang,Dang Zhi,Chen Huiqing,Deng Xuerong.Fabrication Method Based on Marginal Reinforcing and Improved High-voltage Contactless Conductivity Detector for Poly(dimethylsiloxane)/Glass Microchips[J].Chinese Journal of Analytical Chemistry,2006,34(10):1501-1506. |
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| Authors: | Zhang Shuifeng Wang Lishi Chen Zuanguang Dang Zhi Chen Huiqing Deng Xuerong |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Miniaturized total analysis system poly(dimethylsiloxance) microfluidic chip contactless conductivity detector inorganic cation |
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