溴化分离-电感耦合等离子体质谱法测定高纯锡中的16种杂质元素 |
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引用本文: | 魏建军,郎春燕,林龙飞,郑林,李佳宣.溴化分离-电感耦合等离子体质谱法测定高纯锡中的16种杂质元素[J].分析化学,2013(6):927-930. |
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作者姓名: | 魏建军 郎春燕 林龙飞 郑林 李佳宣 |
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作者单位: | 成都理工大学材料与化学化工学院应用化学系;四川阿波罗太阳能科技有限责任公司;中国海洋大学地求科学院 |
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摘 要: | 高纯锡样品经HCl和H2O2消解,HBr挥发分离,去除基体Sn,采用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定其中的16中杂质元素。通过溴化分离基体锡,有效克服了基体对所测杂质元素的干扰和对仪器进样系统的污染。在选定的实验条件下,方法检出限(3σ)介于0.001~0.004μg/g之间;相对标准偏差(RSD)为2.3%~5.6%;加标回收率在95.2%~103.6%范围内。本方法简单实用,能够满足纯度为99.99%和99.999%的高纯锡中16种杂质元素的测定要求。
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关 键 词: | 电感耦合等离子体质谱 高纯锡 溴化分离 杂质元素 |
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