有序卤化银照相层的颗粒度的计算机模拟测量——Ⅱ.圆形采样孔效应 |
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引用本文: | 夏培杰,刘玉臣.有序卤化银照相层的颗粒度的计算机模拟测量——Ⅱ.圆形采样孔效应[J].影像科学与光化学,1985,3(3):13-19. |
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作者姓名: | 夏培杰 刘玉臣 |
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作者单位: | 中国科学院感光化学研究所 |
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摘 要: | 本工作采用了圆孔采样的连续型模型对所设计的几种颗粒有序排列的照相层相应的影像层的颗粒度进行了计算机模拟测量。测量的结果表明,与方孔采样的结果不同,圆形采样孔孔径尺寸的微小变化所引起的颗粒度测量值的波动小,测量值比较稳定。此外,各种颗粒有序排列图案的试样在不同的显影密度下几乎具有相同的结果。
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收稿时间: | 1984-05-22 |
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