聚合物球凹阵列的密度调控及其镀金后的SERS性能 |
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引用本文: | 孙春生,洪清华,刘雪锋.聚合物球凹阵列的密度调控及其镀金后的SERS性能[J].化学研究与应用,2014(4):541-545. |
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作者姓名: | 孙春生 洪清华 刘雪锋 |
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作者单位: | 江南大学化学与材料工程学院; |
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基金项目: | 国家自然科学基金项目(21071065)资助;教育部基金项目(教外司留[2011]1139)资助 |
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摘 要: | 以内嵌于聚合物呈非紧密接触堆积的SiO2微球阵列为模板,经HF蚀除表层SiO2微球后再经金属物理覆镀,得到81 cm2/片的球凹阵列SERS基底。以苯硫酚为探针,所得阵列的SERS效应显著(EF高达108量级),并且重现性良好(EF的RSD8%);将SiO2与聚合物的体积比(RS-P)在20%-42%范围内改变,基底表面球凹均可保持六边形周期性排布,球凹的排布密度(Γ)在4.65×108个/cm2-6.92×108个/cm2范围内相应改变。
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关 键 词: | 球凹阵列 密度调控 SERS性能 重现性 |
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