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聚合物球凹阵列的密度调控及其镀金后的SERS性能
引用本文:孙春生,洪清华,刘雪锋.聚合物球凹阵列的密度调控及其镀金后的SERS性能[J].化学研究与应用,2014(4):541-545.
作者姓名:孙春生  洪清华  刘雪锋
作者单位:江南大学化学与材料工程学院;
基金项目:国家自然科学基金项目(21071065)资助;教育部基金项目(教外司留[2011]1139)资助
摘    要:以内嵌于聚合物呈非紧密接触堆积的SiO2微球阵列为模板,经HF蚀除表层SiO2微球后再经金属物理覆镀,得到81 cm2/片的球凹阵列SERS基底。以苯硫酚为探针,所得阵列的SERS效应显著(EF高达108量级),并且重现性良好(EF的RSD8%);将SiO2与聚合物的体积比(RS-P)在20%-42%范围内改变,基底表面球凹均可保持六边形周期性排布,球凹的排布密度(Γ)在4.65×108个/cm2-6.92×108个/cm2范围内相应改变。

关 键 词:球凹阵列  密度调控  SERS性能  重现性
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