| 扫描电镜技术在高分子表征研究中的应用 |
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| 引用本文： | 郑鑫,由吉春,朱雨田,李勇进.扫描电镜技术在高分子表征研究中的应用[J].高分子学报,2022,53(5):539-560. |
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| 作者姓名： | 郑鑫 由吉春 朱雨田 李勇进 |
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| 作者单位： | 杭州师范大学材料与化学化工学院 杭州311121 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(基金号52103026,51890872)；;浙江省自然科学基金重大项目(基金号LD19E030001)资助项目； |
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| 摘 要： | 扫描电子显微镜(scanning electron microscope,SEM)是表征高分子材料微观结构及其组成信息重要的手段之一，具有操作简便、信号电子种类多样且对样品损伤较小等特点.本文系统阐述了SEM的工作原理，通过与透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM)进行比较，突出了其优势与特色.详细讨论了该技术的测试方法，包括样品制备、仪器参数设定、操作技巧与图像处理，并揭示了获得高质量SEM图像的关键技术.介绍了SEM不同的信号电子成像、SEM与其他仪器联用及SEM原位分析技术在高分子材料表征中的应用与进展.最后，对SEM的发展趋势进行了展望.
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| 关 键 词： | 扫描电子显微镜 高分子材料 微观结构 组成信息 应用 |
Applications of Scanning Electron Microscopy in Polymer Characterization |
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| Xin Zheng,Ji-chun You,Yu-tian Zhu,Yong-jin Li.Applications of Scanning Electron Microscopy in Polymer Characterization[J].Acta Polymerica Sinica,2022,53(5):539-560. |
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| Authors: | Xin Zheng Ji-chun You Yu-tian Zhu Yong-jin Li |
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