| 面粉中滑石粉的X射线衍射分析 |
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| 引用本文： | 王承明,潘峰,高滢,吴谋成.面粉中滑石粉的X射线衍射分析[J].分析科学学报,2006,22(6):651-654. |
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| 作者姓名： | 王承明 潘峰 高滢 吴谋成 |
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| 作者单位： | 1. 华中农业大学食品科学技术学院,武汉,430070;农业部食品安全评价重点开放实验室,武汉,430070
2. 华中农业大学食品科学技术学院,武汉,430070 |
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| 摘 要： | 通过四氯化碳分离或高温灰化,X射线衍射分析测定面粉中掺入的滑石粉。其中灰化处理适宜温度为500~750℃。该方法简便、快速,灵敏度高,样品用量少,准确可靠,可推广为检测面粉质量的一种较理想的手段。
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| 关 键 词： | 面粉 滑石粉 X射线衍射分析 |
| 文章编号： | 1006-6144(2006)06-0651-04 |
| 收稿时间： | 2006-08-15 |
| 修稿时间： | 2006-09-26 |
X-Ray Diffraction Analysis of Talc Powder in Flour |
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| WANG Cheng-ming,PAN Feng,GAO Ying,WU Mou-cheng.X-Ray Diffraction Analysis of Talc Powder in Flour[J].Journal of Analytical Science,2006,22(6):651-654. |
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| Authors: | WANG Cheng-ming PAN Feng GAO Ying WU Mou-cheng |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Flour Talc powder X-ray diffraction analysis |
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