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| 氟化辅助电热蒸发/ICP-AES直接测定氧化铝粉末中痕量杂质钇 | |
| 引用本文： | 常钢,彭天右,江祖成,胡斌.氟化辅助电热蒸发/ICP-AES直接测定氧化铝粉末中痕量杂质钇[J].分析科学学报,2001,17(4):270-274. |
| 作者姓名： | 常钢 彭天右 江祖成 胡斌 |
| 作者单位： | 武汉大学化学系, |
| 基金项目： | 国家自然科学基金，国家教育部博士点基金 |
| 摘 要： | 报道了以聚四氟乙烯（PTFE）悬浮体为氟化剂，悬浮体制样／氟化辅助电热蒸发（ETV）／ICP －AES直接测定两种AI2O3粉末样品中痕量杂质钇。考察了影响基体和待测元素蒸发过程的各种因素；对比研究了待测元素和基体的氟化蒸发行为。在优化实验条件下，方法的检出限为0．1μg/g，相对标准偏差为5．6％（n=5,c=8g/L悬浮体）。并与溶样法气动雾化（PN）－ICP－AES的分析结果进行了对比。本法简便、灵敏、无需任何化学前处理，可用于相关陶瓷生产过程中的质量控制。 |
| 关 键 词： | 氟化电热蒸发 钇 乳浮体制样 ICP－AES 氧化铝粉末 陶瓷 痕量分析 聚四氟乙烯 |
| 文章编号： | 1006-6144(2001)04-0270-05 |
| 修稿时间： | 2000年10月28 |
Direct Determination of Yttrium in Alumina by Fluorination Assisted ETV-ICP-AES |
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| Abstract: | |
| Keywords: | Fluorination assisted electrothermal vaporization Trace impurity yttrium Slurry sampling ICP AES |
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