|
|||||
|
|
| ICP─MS测定高纯钪、钇、钬、铥和镥氧化物中痕量稀土杂质研究 | |
| 引用本文： | 尹明,李冰,符廷发.ICP─MS测定高纯钪、钇、钬、铥和镥氧化物中痕量稀土杂质研究[J].分析科学学报,1995(1). |
| 作者姓名： | 尹明 李冰 符廷发 |
| 作者单位： | 国家地质实验测试中心 |
| 摘 要： | 研究了用电感耦合等离子体质谱（ＩＣＰ－ＭＳ）测定高纯钪、钇、钬、铥和镥氧化物中痕量稀土杂质的方法。用内标法有效地校正了基体抑制效应，改善了精密度。与ＩＣＰ─ＡＥＳ分析相比，本法具有灵敏度高、流程简单快速、耗样少等特点。测定下限可降低１─２个数量级。方法可用于９９．９９９％的高纯稀土的分析。 |
| 关 键 词： | ICP─MS，高纯稀土，基体抑制，内标 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |