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Ba0.98Bi0.02(Ti0.9Zr0.1)1-xCuxO3陶瓷的介电性能、弛豫行为与结晶化学特性
引用本文:彭勇,丁士华,宋天秀,王久石,徐琴,吴小亮.Ba0.98Bi0.02(Ti0.9Zr0.1)1-xCuxO3陶瓷的介电性能、弛豫行为与结晶化学特性[J].无机化学学报,2013,29(7):1400-1406.
作者姓名:彭勇  丁士华  宋天秀  王久石  徐琴  吴小亮
作者单位:西华大学材料科学与工程学院, 成都 610039;西华大学材料科学与工程学院, 成都 610039;西华大学材料科学与工程学院, 成都 610039;西华大学材料科学与工程学院, 成都 610039;西华大学材料科学与工程学院, 成都 610039;西华大学材料科学与工程学院, 成都 610039
基金项目:国家自然科学基金(No.11074203);西华大学研究生创新基金(No.YCJJ201258)资助项目。
摘    要:采用固相合成法,Bi3+作施主掺杂A位,Cu2+作受主掺杂B位,制备了Ba0.98Bi0.02(Ti0.9Zr0.1)1-xCuxO3(x=0,0.01,0.02,0.03)陶瓷样品。借助XRD、LCR等研究了该陶瓷的结构与介电性能。结果表明:当x=0.03时,陶瓷样品出现第二相。通过GULP模拟,缺陷偶极子的稳定性从低到高依次为:2BiBa.+VBa″]、2BiBa.+CuTi/Zr″]、CuTi/Zr″+VO..],结合实验可知:介电弛豫程度与晶体中缺陷偶极子的存在形式相关,其中x=0.01时,晶体中以2BiBa.+CuTi/Zr″]为主。随Cu2+掺杂量的增加,介电常数增加,介电常数与B位键价和呈反比变化、与八面体BO6的体积呈正比变化。

关 键 词:Ba0.98Bi0.02(Ti0.9Zr0.1)1-xCuxO3陶瓷  介电弛豫  缺陷偶极子  结晶化学
收稿时间:2012/12/27 0:00:00
修稿时间:2013/1/30 0:00:00

Dielectric Properties, Relaxor Behavior and Crystal Chemistry Properties of Ba0.98Bi0.02(Ti0.9Zr0.1)1-xCuxO3 Ceramics
PENG Yong,DING Shi-Hu,SONG Tian-Xiu,WANG Jiu-Shi,XU Qin and WU Xiao-Liang.Dielectric Properties, Relaxor Behavior and Crystal Chemistry Properties of Ba0.98Bi0.02(Ti0.9Zr0.1)1-xCuxO3 Ceramics[J].Chinese Journal of Inorganic Chemistry,2013,29(7):1400-1406.
Authors:PENG Yong  DING Shi-Hu  SONG Tian-Xiu  WANG Jiu-Shi  XU Qin and WU Xiao-Liang
Institution:College of Materials Science & Engineering, Xihua University, Chengdu 610039, China;College of Materials Science & Engineering, Xihua University, Chengdu 610039, China;College of Materials Science & Engineering, Xihua University, Chengdu 610039, China;College of Materials Science & Engineering, Xihua University, Chengdu 610039, China;College of Materials Science & Engineering, Xihua University, Chengdu 610039, China;College of Materials Science & Engineering, Xihua University, Chengdu 610039, China
Abstract:
Keywords:Ba0  98Bi0  02(Ti0  9Zr0  1)1-xCuxO3 ceramics  dielectric relaxation  defect dipoles  crystal chemistry
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