首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

失效原子力显微镜硅针尖再生
引用本文:徐化明,王锐,国立秋,王秀凤,陈皓明,梁吉.失效原子力显微镜硅针尖再生[J].无机化学学报,2006,22(11):1973-1976.
作者姓名:徐化明  王锐  国立秋  王秀凤  陈皓明  梁吉
作者单位:1. 清华大学机械工程系,北京,100084
2. 清华大学物理系,北京,100084
摘    要:原子力显微镜的传统商品硅针尖在使用过程中极易因磨损而失效,本文研究了一种在实验室条件下简易可行的回收利用失效硅针尖的方法。在原子力显微镜的敲击模式下使用曲率半径大于100 nm的失效硅针尖对生长单壁碳纳米管的样品表面进行扫描,把样品表面的单壁碳纳米管管束粘接到硅针尖上,可制得直径在5~20 nm的碳纳米管针尖。实验对碳纳米管针尖和新的商品硅针尖进行了成像对比,所制备的碳纳米管针尖不仅在成像分辨率而且在成像稳定性上都优于新的商品硅针尖。

关 键 词:原子力显微镜    碳纳米管针尖    失效硅针尖
文章编号:1001-4861(2006)11-1973-04
收稿时间:2006-04-04
修稿时间:2006-07-17

Rebirth of Worn Atomic Force Microscopy Silicon Tips
XU Hua-Ming,WANG Rui,GUO Li-Qiu,WANG Xiu-Feng,CHEN Hao-Ming and LIANG Ji.Rebirth of Worn Atomic Force Microscopy Silicon Tips[J].Chinese Journal of Inorganic Chemistry,2006,22(11):1973-1976.
Authors:XU Hua-Ming  WANG Rui  GUO Li-Qiu  WANG Xiu-Feng  CHEN Hao-Ming and LIANG Ji
Institution:Department of Mechanical Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084,Department of Mechanical Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084,Department of Mechanical Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084,Department of Physics, Tsinghua University, Beijing 100084,Department of Physics, Tsinghua University, Beijing 100084 and Department of Mechanical Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084
Abstract:
Keywords:atomic force microscopy  carbon nanotube tips  worn silicon tips
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《无机化学学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《无机化学学报》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号