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以(10■5)面为籽晶的6H-SiC单晶生长与缺陷研究
引用本文:高玉强,彭燕,李娟,陈秀芳,胡小波,徐现刚,蒋民华.以(10■5)面为籽晶的6H-SiC单晶生长与缺陷研究[J].人工晶体学报,2010,39(2).
作者姓名:高玉强  彭燕  李娟  陈秀芳  胡小波  徐现刚  蒋民华
作者单位:山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100
基金项目:国家自然科学基金,教育部科技创新工程重大项目,973国家重大科学研究计划项目 
摘    要:本文以升华法实现了以(10(1)5)面为籽晶的6H-SiC单晶扩径生长,获得最大直径达33 mm的6H-SiC单晶.采用光学显微镜观察晶体纵切片,发现源于包裹体的沿生长方向延伸的微管发生转弯现象,转向后在(0001)面内延伸,同时籽晶内沿c轴延伸的微管也终止于生长界面.通过光学显微镜观察单晶生长表面形貌,发现(101n)面生长,随着n的增大层错密度逐渐减小,这与横切片的腐蚀结果相对应;随着微管的终止和层错的减少得到了无微管的高质量单晶区.

关 键 词:升华法  SiC单晶  微管  层错

Growth and Defect Characterization of 6H-SiC Single Crystal Seeded (1015) Plane
GAO Yu-qiang,PENG Yan,LI Juan,CHEN Xiu-fang,HU Xiao-bo,XU Xian-gang,JIANG Min-hua.Growth and Defect Characterization of 6H-SiC Single Crystal Seeded (1015) Plane[J].Journal of Synthetic Crystals,2010,39(2).
Authors:GAO Yu-qiang  PENG Yan  LI Juan  CHEN Xiu-fang  HU Xiao-bo  XU Xian-gang  JIANG Min-hua
Institution:GAO Yu-qiang,PENG Yan,LI Juan,CHEN Xiu-fang,HU Xiao-bo,XU Xian-gang,JIANG Min-hua(State Key Laboratory of Crystal Materials,Sh,ong University,Jinan 250100,China)
Abstract:
Keywords:sublimation  SiC single crystal  micropipe  stacking faults  
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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