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SiCl4浓度对微晶硅薄膜生长及光电特性的影响
引用本文:祝祖送,张杰,尹训昌,易明芳,闻军.SiCl4浓度对微晶硅薄膜生长及光电特性的影响[J].人工晶体学报,2016,45(4):1012-1016.
作者姓名:祝祖送  张杰  尹训昌  易明芳  闻军
作者单位:安庆师范学院物理与电气工程学院,安庆,246133
基金项目:国家自然科学基金(11447197),安徽省教育厅资助项目(AQKJ2014B019),安徽省自然科学基金(1608085MA21)
摘    要:研究了SiCl4浓度对等离子体增强化学气相沉积(PECVD)系统中以SiCl4/H2为反应气体的微晶硅薄膜生长及光电特性的影响.结果表明,微晶硅薄膜的沉积速率和晶化率均随SiCl4浓度的增加而增大,而晶粒平均尺寸在SiCl4浓度小于65;时呈增大趋势,在SiCl4浓度大于65;时呈减小趋势;此外,光照实验表明制备的微晶硅薄膜具有较稳定的微观结构,具有类稳恒光电导效应,且样品的电导率依赖于SiCl4浓度的变化.此外,还讨论了Cl基基团在微晶硅薄膜生长过程中所起的作用.

关 键 词:微晶硅  稳恒光电导效应  晶粒  等离子体增强化学气相沉积  

Effects of SiCl4 Concentration on the Growth and Photoelectric Properties of Microcrystalline Silicon Thin Films
ZHU Zu-song,ZHANG Jie,YIN Xun-chang,YI Ming-fang,WEN Jun.Effects of SiCl4 Concentration on the Growth and Photoelectric Properties of Microcrystalline Silicon Thin Films[J].Journal of Synthetic Crystals,2016,45(4):1012-1016.
Authors:ZHU Zu-song  ZHANG Jie  YIN Xun-chang  YI Ming-fang  WEN Jun
Abstract:
Keywords:microcrystalline silicon  persistent photoconductivity effect  crystalline grain  PECVD
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