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共溅射NixZn1-xO薄膜的结构、磁性和电性能
引用本文:王锋,黄鹏飞.共溅射NixZn1-xO薄膜的结构、磁性和电性能[J].人工晶体学报,2013(1):186-191.
作者姓名:王锋  黄鹏飞
作者单位:泉州师范学院物理与信息工程学院
基金项目:福建省自然科学基金(2010J01305,E0510027)资助项目;福建省教育厅A类科技项目(JA12283);泉州市科技项目计划(2009G82012Z105);福建省高校服务海西建设重点项目(A100)
摘    要:采用射频共溅射方法制备了NixZn1-xO(x=0.78、0.72、0.68)薄膜。薄膜有非晶相和少量的NiO结晶相的存在。样品都具有明显的室温铁磁性,退火后(TA=803 K)Ni0.78Zn0.22O薄膜的饱和磁化强度Ms可达65 emu/cm3,对应单个Ni离子磁矩大于0.13μB。低温下制备态薄膜都出现了电阻率极小值的现象,这是由于样品发生了金属-绝缘体转变。

关 键 词:射频共溅射  NiZnO  铁磁性  电阻率

Structure,Magnetic and Electrical Properties of NixZn1-xO Co-sputtering Films
WANG Feng,HUANG Peng-fei.Structure,Magnetic and Electrical Properties of NixZn1-xO Co-sputtering Films[J].Journal of Synthetic Crystals,2013(1):186-191.
Authors:WANG Feng  HUANG Peng-fei
Institution:(School of Physics and Information Engineering,Quanzhou Normal University,Quanzhou 362000,China)
Abstract:
Keywords:
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