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纳米晶粒多晶Si薄膜的低压化学气相沉积
引用本文:彭英才,马蕾,康建波,范志东,简红彬.纳米晶粒多晶Si薄膜的低压化学气相沉积[J].人工晶体学报,2006,35(3):560-564.
作者姓名:彭英才  马蕾  康建波  范志东  简红彬
作者单位:1. 河北大学电子信息工程学院,保定,071002;中国科学院半导体研究所,半导体材料科学重点实验室,北京,100083
2. 河北大学电子信息工程学院,保定,071002
基金项目:河北省自然科学基金(No.503125),中国科学院半导体研究所半导体材料科学重点实验室开放课题资助
摘    要:利用低压化学气相沉积(LPCVD)方法,以充Ar的S iH4作为反应气体源,在覆盖有热生长S iO2层的p-(100)S i衬底上制备了具有均匀分布的纳米晶粒多晶S i膜(nc-poly-S i)。采用扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)和拉曼谱等检测手段,测量和分析了沉积膜层的表面形貌、晶粒尺寸与密度分布等结构特征。结果表明,nc-poly-S i膜中S i晶粒的尺寸大小和密度分布强烈依赖于衬底温度、S iH4浓度与反应气压等工艺参数。典型实验条件下生长的S i纳米晶粒形状为半球状,晶粒尺寸约为40nm,密度分布约为4.0×1010cm-2和膜层厚度约为200nm。膜层的沉积机理分析指出,衬底表面上S i原子基团的吸附、迁移、成核与融合等热力学过程支配着nc-poly-S i膜的生长。

关 键 词:LPCVD  纳米晶粒  多晶Si膜  结晶成核  晶粒融合
文章编号:1000-985X(2006)03-0560-05
收稿时间:12 22 2005 12:00AM
修稿时间:2005-12-22

Low Pressure Chemical Vapor Deposition of Nanograin Polysilicon Thin Films
PENG Ying-cai,MA Lei,KANG Jian-bo,FAN Zhi-dong,JIAN Hong-bin.Low Pressure Chemical Vapor Deposition of Nanograin Polysilicon Thin Films[J].Journal of Synthetic Crystals,2006,35(3):560-564.
Authors:PENG Ying-cai  MA Lei  KANG Jian-bo  FAN Zhi-dong  JIAN Hong-bin
Abstract:
Keywords:LPCVD  nanograins  polysilicon films  nucleation  Si nanograins mergence
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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