| ZnGeP2晶体轴向成分均匀性的XPS分析 |
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| 引用本文： | 陈成,朱世富,赵北君,陈宝军,何知宇,杨登辉,曹礼强,刘伟.ZnGeP2晶体轴向成分均匀性的XPS分析[J].人工晶体学报,2014,43(6):1341-1345. |
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| 作者姓名： | 陈成 朱世富 赵北君 陈宝军 何知宇 杨登辉 曹礼强 刘伟 |
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| 作者单位： | 四川大学材料科学系,成都,610064 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金重点项目(50732005) |
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| 摘 要： | 通过改进ZnGeP2晶体的合成和生长工艺,获得了尺寸为φ24 mm×60 mm的ZnGeP2单晶体.采用X射线光电子能谱(XPS)对生长出的晶体轴向成分进行了分析.结果表明,晶体在籽晶、放肩和主体部分成分一致,在尾部存在X射线衍射(XRD)未能检测出的极少量的P和Ge的氧化物,说明生长出的ZnGeP2单晶体的轴向成分比较均匀.红外透过率测试显示,晶体的轴向各部分在3 ～8 μm波长范围内透过率均在56;以上,而尾部在近红外波段(1.3～2.6 μm)的吸收明显要高于其他各部分.
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| 关 键 词： | 磷锗锌 轴向成分 均匀性 透过率 |
Analysis of the Axial Composition Homogeneity of ZnGeP2 Crystals by XPS |
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| Keywords: | |
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