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高能辐射照相中“屏片”系统的MonteCarlo模拟
引用本文:刘军,刘进,施将君,刘瑞根,管永红,肖智强.高能辐射照相中“屏片”系统的MonteCarlo模拟[J].高能量密度物理,2008(3).
作者姓名:刘军  刘进  施将君  刘瑞根  管永红  肖智强
作者单位:中国工程物理研究院流体物理研究所105室,四川绵阳621900
摘    要:在简述“屏片”图像接收系统成像原理的基础上,讨论了薄介子中能量沉积的模拟方法。针对实际照相模型,研究了直穿光子和散射光子在“屏片”系统中的响应特性。结果表明,对于“屏片”系统,金属增感屏出射面的电子通量是决定X射线能量转换效率的主要因素;适当增加金属增感屏的厚度,有助于降低散射的影响,但也在一定程度上增加了图像本底;金属增感屏厚度为0.4mm左右时,金属增感屏对直穿光子的局部增感效果最好。

关 键 词:“屏片”系统  能量沉积  转换效率  点扩展函数
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