高能辐射照相中“屏片”系统的MonteCarlo模拟 |
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引用本文: | 刘军,刘进,施将君,刘瑞根,管永红,肖智强.高能辐射照相中“屏片”系统的MonteCarlo模拟[J].高能量密度物理,2008(3). |
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作者姓名: | 刘军 刘进 施将君 刘瑞根 管永红 肖智强 |
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作者单位: | 中国工程物理研究院流体物理研究所105室,四川绵阳621900 |
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摘 要: | 在简述“屏片”图像接收系统成像原理的基础上,讨论了薄介子中能量沉积的模拟方法。针对实际照相模型,研究了直穿光子和散射光子在“屏片”系统中的响应特性。结果表明,对于“屏片”系统,金属增感屏出射面的电子通量是决定X射线能量转换效率的主要因素;适当增加金属增感屏的厚度,有助于降低散射的影响,但也在一定程度上增加了图像本底;金属增感屏厚度为0.4mm左右时,金属增感屏对直穿光子的局部增感效果最好。
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关 键 词: | “屏片”系统 能量沉积 转换效率 点扩展函数 |
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